Skip navigation
Ana Sayfa
Listele
Bölümler &
Koleksiyonlar
Browse Items by:
Yayın Tarihi
Yazar
Başlık
Konu
Yardım
Language
Türkçe
English
Oturum
DSpace'im
Güncelleme Al
Profil Düzenle
DSpace
JSPUI
DSpace preserves and enables easy and open access to all types of digital content including text, images, moving images, mpegs and data sets
Learn More
Harran University
Arama
Arama:
Tüm DSpace
Enstitüler
Fen Bilimleri Enstitüsü
Sağlık Bilimleri Enstitüsü
Sosyal Bilimler Enstitüsü
için
Mevcut filitreler:
Başlık
Yazar
Konu
Yayın tarihi
Has File(s)
???jsp.search.filter.original_bundle_filenames???
???jsp.search.filter.original_bundle_descriptions???
Eşittir
İ çerir
ID
Eşit değildir
İ çermez
ID değil
Başlık
Yazar
Konu
Yayın tarihi
Has File(s)
???jsp.search.filter.original_bundle_filenames???
???jsp.search.filter.original_bundle_descriptions???
Eşittir
İ çerir
ID
Eşit değildir
İ çermez
ID değil
Başlık
Yazar
Konu
Yayın tarihi
Has File(s)
???jsp.search.filter.original_bundle_filenames???
???jsp.search.filter.original_bundle_descriptions???
Eşittir
İ çerir
ID
Eşit değildir
İ çermez
ID değil
Yeni bir arama başlat
Filitreleri ekleyin:
Arama sonuçlarını daraltmak için filtreleri kullanın.
Başlık
Yazar
Konu
Yayın tarihi
Has File(s)
???jsp.search.filter.original_bundle_filenames???
???jsp.search.filter.original_bundle_descriptions???
Eşittir
İ çerir
ID
Eşit değildir
İ çermez
ID değil
Sonuçlar 1-2 den 2.
önceki
1
sonraki
Bulunan Öğeler:
Yayın Tarihi
Başlık
Yazar(lar)
2009
In this study chemical solutions of BaTiO3, SrTiO3, BaZrO3, ZnTiO3, ZrTiO4, ZrO2, La1/3Ca2/3MnO3, La1/3Ba2/3MnO3 and La1/3Sr2/3MnO3 were prepared by sol?gel method using metal alkoxides. And these solutions were coated on Ag, steel, Cu and glass by dipcoating method to produce thin films. Thin films were annealed at 600ºC-700ºC temperatures. X-ray diffraction (XRD) showed that the crystal structure was occured. Thickness of thin films was measured by spectroscopic elipsometer and micrometer. Thickness of thin films was found as 40-80 µm and 300-700 nm. Capacitance of BaTiO3, SrTiO3, BaZrO3, ZnTiO3, ZrTiO4, ZrO2 , La1/3Ca2/3MnO3, La1/3Ba2/3MnO3 and La1/3Sr2/3MnO3 thin films were measured by capacitometer. And coated surface areas were calculated and dielectric constant of these films were found using measurement system of capacitance.
KÜP, FERHAT
2009
TDR cihazının kalibrasyonunun yapılması ve sulama otomasyonuna uygun hale getirilmesi / TDR calibration of the tdr device and its optimisation for irrigation automations
KÜP, FERHAT
Keşfet
Yayın tarihi
2
2009