Bazı polimer yapıların küçük açı x-ışını saçılma yöntemi (SAXS) ile incelenmesi / Characterization by small angle x-ray scattering (SAXS) method of some polymer structures

Abstract

Yeni polimerlerin sentezi ve karakterizasyonu, bilimsel araştırmalar ve teknolojik gelişmeler için çok önemlidir. SWAXS(Küçük ve büyük açılarda X-ışını saçılması) yöntemi yeni sentezlenen üç yeni polimerin, {[Cu(IPA)I2] K2}n, [Al(pydc)2K]n, Cd (Cystein) _2 I_4ve Cu/ZnO/Al2O3'ün tanımlanmasında kullanılmıştır ve bu yöntemle ince kesit şeklindeki örneklerin uzun mesafeli düzeni için nano boyutlu benzer/farklı elektron yoğunluğu bölgeleri incelenmiştir. Bu bölgelerin boyut, şekil ve uzaklık dağılımı da saçılan X-ışınları kullanılarak incelenmiştir. Bu örneklerin lokal çevrede ve uzun mesafedeki düzenleri, X-ışını kırınım (XRD) yöntemlerinden biri olan eş zamanlı SAXS ve WAXS ölçümleri kullanılarak açıklanmaya çalışılmış ve elde edilen veriler değerlendirilmiştir. Saçılma profilleri 1200 saniye boyunca CuK ışını kullanılarak HECUSSWAXS sistemi ile kaydedilmiştir. İlk yapısal parametreler saçılma desenlerinin Guinier ve Porod bölgelerinden elde edilmiştir. Daha sonra üç boyutlu uygun yapısal modeller, deneysel veriler için geliştirilmiş ve uygulanmıştır. ANAHTAR KELİMELER: Saxs, XRD, Polimerler The synthesis and characterization of novel polymeric materials is crucially important for new scientific researches and technological applications. SWAXS method have been used to characterize three novel synthesized {[Cu(IPA)I2] K2}n, [Al(pydc)2K]n, Cd (Cystein) _2 I_4 and Cu/ZnO/Al2O3 and the nanosized similar/different electron density regions in long range order of the samples in the form of thin sections have been investigated. Size, shape and pair distributions of these regions have been also examined by using scattered X-rays. So the local environments and long range orders of these samples have been explained by using simultaneous SAXS and WAXS measurements that are one of methods of X-ray diffraction (XRD) and the evaluated data. Scattering profiles were measured by an HECUSSWAXS system using CuK radiation during 1200 seconds. The first structural parameters have been obtained from Guinier and Porod regions of scattering patterns. Three dimensional suitable structural models were then developed and applied to experimental data. KEY WORDS: Saxs, XRD, Polymers